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SearchLight™ 光谱测绘和分析工具

作者:IDEX Health & Science

 

你是否缺乏精确的光谱工具,来设计你的荧光检测仪器?

许多成像系统设计者与不足的光谱分析资源作斗争。 这导致了次优性能,并增加了成本和开发时间。

有许多因素阻碍了精确荧光成像系统的发展。

  • 资源分散 - 资源缺乏集中化,因为您必须手动识别、准备和维护来自各种供应商和文献的光谱成分数据。
  • 功能不足 - 大多数光谱可视化工具是不足的, 因此限制了可以同时绘制的组件的数量和类型。
  • 缺乏计算 - 大多数工具没有系统计算或优化功能,无法准确分析光谱组件。
  • 花费时间 - 迫使您创建和维护自己不同的建模和分析工具, 导致大量开发时间和精力的浪费。
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    为了克服这些障碍,我们的工程师创建了 SearchLight™ 在线绘图工具。

    该工具使您能够通过详细的光谱可视化功能和精确的系统计算,来优化荧光成像系统的各个方面。

  • 直观的界面 - SearchLight™ 将仪器设计提升到一个全新的水平, 它的直观界面提供了广泛的组件数据库,允许您准确分析光谱组件,以显著地提升性能并降低开销。
  • 先进的功能 - SearchLight™ 通过先进的功能改进了您的设计方式,使您能够轻松选择光谱元素, 可视化属性, 很快计算关键参数,如信号亮度和信噪比 。
  • 合作的方式 - SearchLight™ 也是一种与同行合作的强大方式, 通过基于网络的数据管理,您可以改变设计方式 ,尽快做出决定, 并减少浪费的开发时间。
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    “您的用于计算滤光片特性与入射角的函数的工具非常有用。非常有用的工具。非常感谢!”

    Jeppe SD - 丹麦理工大学

     

    使用 SearchLight™,全速助推您的成像系统的光谱设计。


    观看以下视频,学习如何使用该工具。